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　　系統(tǒng)概述:

　　新銳中科功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，集多種測(cè)量功能?體，可以精準(zhǔn)測(cè)量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT，以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，具有?電壓和?電流特性、μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻精確測(cè)量、nA級(jí)漏電流測(cè)量能?等特點(diǎn)。?持?壓模式下功率器件結(jié)電容測(cè)試，如輸?電容、輸出電容、反向傳輸電容等。

　　系統(tǒng)組成:

　　新銳中科功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，主要包括測(cè)試主機(jī)、測(cè)試線、測(cè)試夾具、電腦、上位機(jī)軟件，以及相關(guān)測(cè)試配件等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采?新銳中科?主開發(fā)的測(cè)試主機(jī)，內(nèi)置多種規(guī)格電壓、電流、電容測(cè)量單元模塊。結(jié)合專?上位機(jī)測(cè)試軟件，可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)?需要，設(shè)置不同的電壓、電流等參數(shù)，以滿?不同測(cè)試需求。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存與導(dǎo)出，并可?成I-V以及C-V特性曲線。此外，測(cè)試主機(jī)可與探針臺(tái)搭配使?，實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)芯?測(cè)試。