SP26系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是?款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有?精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時?持DC電流‐電壓(I‐V)、電容‐電壓(C‐V)以及?流?壓下脈沖式I‐V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯?器件設(shè)計以及先進?藝的開發(fā),具有卓越的測量效率與可靠性。
產(chǎn)品簡介:
SP26系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是?款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有?精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時?持DC電流‐電壓(I‐V)、電容‐電壓(C‐V)以及?流?壓下脈沖式I‐V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯?器件設(shè)計以及先進?藝的開發(fā),具有卓越的測量效率與可靠性。
基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計,SP26系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助?戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進?升級。產(chǎn)品?持?1200V電壓、100A?電流、1pA?電流分辨率的測量,同時檢測10kHz?3MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量。
SP26系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀采?專業(yè)半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,?持交互式?動操作或結(jié)合探針臺的?動操作,能夠從測量設(shè)置、執(zhí)?、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個過程,實現(xiàn)?效和可重復(fù)的器件表征;也可與?低溫箱、溫控模塊等搭配使?,滿??低溫測試需求。
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