在實(shí)驗(yàn)室和晶圓測(cè)試環(huán)境中測(cè)試 Si、SiC 和 GaN MOSFET,確保安全、精準(zhǔn)和快速。了解在設(shè)計(jì)中采用 SiC 和 GaN 導(dǎo)致的測(cè)試挑戰(zhàn)以及如何解決它們的更多信息。了解如何大幅度降低終產(chǎn)品的功耗和大幅度延長(zhǎng)電池壽命??s短設(shè)計(jì)的上市時(shí)間。
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