Scan Code Consultation:
0755-82895217
Product
News
PID 效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。本系統(tǒng)通過長期監(jiān)測其漏電流的情況，確保組件在達到一定的性能衰減后提出報警，測試出組件的使用壽命水平，使其能保證組網(wǎng)的安全運行。PID的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEC62804 光伏組件性能測試標(biāo)準(zhǔn)、IEC61215、IEC61730光伏組件安全測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合而成。
PID 效應(yīng)(Potential Induced Degradation)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。本系統(tǒng)通過長期監(jiān)測其漏電流的情況，確保組件在達到一定的性能衰減后提出報警，測試出組件的使用壽命水平，使其能保證組網(wǎng)的安全運行。PID的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)IEC62804 光伏組件性能測試標(biāo)準(zhǔn)、IEC61215、IEC61730光伏組件安全測試標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合而成。
技術(shù)參數(shù)
|
型號 |
ZC1608 |
|
|
系統(tǒng)配置 |
1臺主控計算機，1~8臺多路電勢差誘導(dǎo)功衰測試儀 (ZC1608)(可選配) |
|
| 大可接入路數(shù) |
64路，少選配一臺測試機(ZC1608)為8路，多選配8臺測試機(ZC1608，ZC1616，ZC1624，ZC1632)為64路。 |
|
|
老化試驗時間 |
0000:00:00~9999:59:59h，可任意設(shè)定，試驗時間結(jié)束，自動切斷輸出。 |
|
| 實時監(jiān)控功能 |
8~64路同時監(jiān)測，自動記錄并實時顯示試驗參數(shù)。 |
|
|
故障警告 |
屏幕上狀態(tài)欄顯示故障原因，漏電流報警。 |
|
|
人機界面 |
外置計算機，獨立顯示器 |
|
|
儀器接口 |
LAN |
|
|
直流電壓 |
±2000V |
|
|
電壓分辨率 |
1V |
|
|
大限額電流 |
1mA/ 通道 |
|
|
漏電檢解析度及測量范圍 |
0.01uA~1uA |
|
|
保護功能 |
過流保護、過壓保護、短路保護 |
|
Follow us
Website: www.pouryi.cn
Tel: 0755-82895217 13715302806
Fax: 0755-88607056
Address: 405-408, East Building 24, Longbi Industrial Zone, Bantian, Longgang District, Shenzhen
Share
.jpg)
